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PL谱分析仪
产品简介:

拉曼红外二合一光谱仪,PL光致发光是一种无损的测试方法,可以快速、便捷地表征半导体材料的带隙检测、缺陷、杂质以及材料的发光性能。谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关。

产品型号:NeoFlex-EDU

厂商性质:生产厂家

更新时间:2025-02-13

访问量:132

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产品介绍

PL谱分析仪

PL光致发光是一种无损的测试方法,可以快速、便捷地表征半导体材料的带隙检测、缺陷、杂质以及材料的发光性能。谱的峰值波长、光谱半宽、积分光强、峰强度、荧光寿命与电子/空穴多种形式的辐射复合相关,杂质或缺陷浓度、组分等密切相关。

PL谱分析仪

谱元光电研发的NeoFlex-EDU PL谱分析仪,采用一体化分析仪器设计理念,内置集成了两路激发光源切换使用,从而极大扩展了仪器的使用范围,满足不同材料激发需求,同时光谱仪采用低噪声、高灵敏度的探测技术,保证了光谱分析的准确性。仪器面板布局简约,各功能模块位置醒目,便于使用者操作测试,无需调整光路,维护简单,是一款非常适合教学或科研测试的分析仪器。

功能及特点

 

一体化分析仪器,设计架构坚固耐用,保证仪器稳定测量性能

内置双激发波长,可切换使用

分辨率及波长飘移上有优异的温湿度、震动、与撞击稳定性,温度稳定性<0.04nm/℃

C-T设计光谱仪光路,提供高分辨率,高灵敏度,低杂散光检测性能

快速PL谱测量能力,只需数秒出结果,最短积分时间可达0.1ms

软件操作简单,界面人性化,易于上手

应用

●半导体材料发光  

●化学/材料发光

●生物发光

●二维材料

PL谱分析仪

PL谱分析仪


规格参数

名称/型号

PL谱分析仪(型号:NeoFlex-EDU)

总体环境、电源要求

功能

PL谱测试、发光源测量

开机时间s

10

温度稳定性nm/℃

<0.04

适用环境

储存温度-30 to +70

操作温度0 to +50

环境湿度0% - 90%

电源要求V

220±10  AC

激发光源

UVLED255激发光源

中心波长λ=255nm LED,功率可单独设置

UVLD405激发光源

中心波长λ=405nm LD,功率可单独设置

光谱检测

检测范围nm

180-1100

光学设计

C-T光学架构

光谱分辨率nm

2

波长重复性nm

±0.05(连续100次测量(汞-氩灯))

积分时间ms

0.1-65000

检测器

有效像素2048,大小14um*200um

通讯端口

USB

样品室

设计结构

T型结构,2路激发,1路发射,带保护上盖,降低外界杂光干扰

滤光片

优质长波通滤光片,配插拔支架

适合样品类型

各类半导体样品,片状、液体等

软件

分析仪软件

提供多种光学量测功能,PL谱测试、发光源测量,追踪特定波长测量,可进行谱线标峰,谱半峰宽计算,数据可导出EXECL,TXT等格式

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

 

测试实例

样品1:InGaN

PL谱分析仪


 

样品2:GaN

PL谱分析仪

 

样品3:AlGaN

PL谱分析仪

 

尺寸信息

PL谱分析仪材质:铝合金、重量:约6kg(不含外包装)

 

 

 

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